X射線指的是能量很高的電磁波，其波長大小范圍約為0.01~10 nm，屬于電子學(xué)和固體物理學(xué)領(lǐng)域重要的工具之一。它的波長比可見光短得多，因此可以穿透高密度物質(zhì)，如金屬、陶瓷等，且具有高吸收率和精細(xì)探測(cè)能力。
 

　　x射線合金分析儀采用的是物質(zhì)分析原理，通過對(duì)樣品進(jìn)行X射線輻照，利用不同元素在X射線作用下所產(chǎn)生的熒光特征來分析材料中元素成分及含量的儀器設(shè)備。當(dāng)X射線與樣品交互作用并熒光發(fā)射時(shí)，探測(cè)器(如氣體或固態(tài)探測(cè)器)會(huì)檢測(cè)到每種元素的特征譜線，并生成光譜圖。儀器內(nèi)部的計(jì)算機(jī)會(huì)自動(dòng)處理數(shù)據(jù)并分析生成結(jié)果。這個(gè)過程中，需要了解樣品的物理和化學(xué)性質(zhì)，以便評(píng)估不同元素之間產(chǎn)生的重疊。同時(shí)，標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試品可用于比較分析結(jié)果，校準(zhǔn)儀器和確保穩(wěn)定精度。通常情況下，具有快速分析、高精度度、無實(shí)質(zhì)性損害、省時(shí)省力等優(yōu)點(diǎn)。
 

　　每個(gè)原子都由一些持續(xù)運(yùn)動(dòng)的電子和一個(gè)核組成，而核心則包含了帶正電的質(zhì)子和通常沒有電荷的中性子。當(dāng)一個(gè)X射線束穿過一個(gè)樣品時(shí)，它就會(huì)與其所包含的原子數(shù)目進(jìn)行相互作用。具體地講，這個(gè)過程發(fā)生了三次：首先是經(jīng)由照射稱之為主要輻射而被散射；然后還有一部分被散射成較低能量的光子，稱之為瑞利散射；還有一部分剩余的光子通過對(duì)原子內(nèi)部電子的作用而被吸收。
 

　　當(dāng)X射線束與物質(zhì)相互作用時(shí)，原子內(nèi)部的某些外層電子會(huì)被激發(fā)并躍遷至高能級(jí)。此時(shí)，這些電子遵循著“電荷守恒”和“自旋軌道”規(guī)則退回到基態(tài)水平，并釋放出一定的能量量。接著，這些已經(jīng)荷電的原子(離子)就會(huì)引起反應(yīng)，并重新配對(duì)。在形成新的氛圍之前，所有物理過程中都會(huì)釋放出輻射，并以熒光X射線光譜的形式呈現(xiàn)。x射線合金分析儀可以根據(jù)樣品內(nèi)所檢測(cè)元素的不同種類和含量，在熒光光譜中可以探測(cè)出幾種關(guān)鍵特征線，如Ka、Kb、La等，它們是由于特定的元素吸收了X射線并通過退火產(chǎn)生的。